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簡(jiǎn)單介紹:
具有出色精度和光學(xué)性能的LEXT?OLS5100激光掃描測(cè)量顯微鏡配備了讓系統(tǒng)更加易于使用的智能工具。其能夠快速高效完成亞微米級(jí)形貌和表面粗糙度的**測(cè)量任務(wù),既簡(jiǎn)化了工作流程又能讓您獲得可信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
詳情介紹:
具有出色精度和光學(xué)性能的LEXT?OLS5100激光掃描測(cè)量顯微鏡配備了讓系統(tǒng)更加易于使用的智能工具。其能夠快速高效完成亞微米級(jí)形貌和表面粗糙度的**測(cè)量任務(wù),既簡(jiǎn)化了工作流程又能讓您獲得可信賴的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。
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